Автоматизована система вимірювання при дослідженні електрофізичних властивостей напівпровідників у умовах сильних деформаційних та температурних полів
Journal Title: Технічні вісті - Year 2016, Vol 1, Issue 43
Abstract
Appliance allows to explore semiconductor materials with high elastic uniaxial deformations in a wide range of values of electrical and temperature fields. Automation experiment technology and visualization experimental data with a computer allowed streamline research and increase its accuracy.
Authors and Affiliations
Леонід Панасюк, Дмитро Захарчук, Юрій Коваль
Keywords
Related Articles
- EP ID EP178550
- DOI -
- Views 84
- Downloads 0
Управління ризиками для якості у фармацевтичній промисловості
The purpose of this article is the regulation of the risk management process for product quality, aimed at analyzing the production of pharmaceutical industry
XXI золота міжнародна школа математичного моделювання
21-а Школа-семінар українсько-польської вітки AMSE-UAPL під егідою Міжнародної асоціації сприяння математичному моделюванню AMSE (Assotiation for Advansement of Modeling and Simulation Techniquw in Enterprises), відбулас...
Control interface for transient processes of nonlinear systems
The developed interface makes it possible to simplify the work of engineers when designing and operating actuating objects of nonlinear systems. And the proposed mathematical theory allows to solve the analysis problem (...
Кінетичні властивості кристалів та їх розрахунки за допомогою великого канонічного розподілу Гіббса
Kinetic properties of crystals and their calculation usingGibbs grand canonical ensemble In the article common algorithmic formulas of important kinetic properties of the isotropic metals in the magnetic field are substa...
Мобільна інформаційна система «Фітнес-тренер»
The program is designed for people who like fitness. It includes a large set of exercises and trainings for people who want to take care of their own body.