Дедуктивный анализ и диагностирование логических X-функций

Journal Title: Радиоэлектроника и информатика - Year 2018, Vol 1, Issue 1

Abstract

Предлагается структурная модель взаимодействия X-функций и производных компонентов, ориентированных на синтез и анализ цифровых систем в целях уменьшения времени проектирования и тестирования вычислительных устройств. Вводится понятие простых X-функций от конечного числа переменных, которые характеризуются отсутствием минимизации и наличием свойств тестопригодности для решения задач синтеза тестов, моделирования и диагностирования. Формулируются метрические свойства X-функций от конечного числа переменных для оценки качества проверяющих тестов путем дедуктивного моделирования проверяемых константных неисправностей на кубитных структурах даных. Предлагается аналитическое выражение для синтеза кубитных покрытий X-функций от конечного числа переменных в целях последующего синтеза и анализа тестов проверки и диагностирования неисправностей. Синтезируются дедуктивные формулы транспортирования входных списков неисправностей на внешние выходы для X-функций от конечного числа переменных, для построения секвенсора моделирования дефектов, инвариантного к входным тестовым наборам. Предлагается кубитный и квантовый методы безусловного диагностирования дефектов, использующие параллельные логические операции для повышения быстродействия online поиска дефектов.

Authors and Affiliations

Владимир Иванович Хаханов, С. В. Чумаченко, И. В. Емельянов, М. М. Любарский, Л. В. Ларченко, Е. И. Литвинова

Keywords

Related Articles

ЛОГИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ КИБЕРСОЦИАЛЬНОГО КОМПЬЮТИНГА

Предлагаются структуры киберсоциального компь- ютинга, которые рассматриваются как компоненты киберфизических технологий для мониторинга и управления обществом. Излагаются основные тренды развития киберфизического уклада...

Дедуктивный анализ и диагностирование логических X-функций

Предлагается структурная модель взаимодействия X-функций и производных компонентов, ориентированных на синтез и анализ цифровых систем в целях уменьшения времени проектирования и тестирования вычислительных устройств. Вв...

Исследование и разработка интеллектуальных методов управления современным предприятием

Исследуются интеллектуальные системы управления в производственном планировании современного промышленного предприятия. Предлагается оптими-зационный метод решения производственных задач для распределения ресурсов предпр...

Способ построения системы функционального контроля на основе логического дополнения по равновесному коду «1 из 5»

Предлагается разработанный авторами статьи способ по-строения систем функционального контроля логических схем автоматики и вычислительной техники на основе метода логического дополнения по равновесному коду «1 из 5». При...

Optimal Placement Problem in Printing Production

In the article we deal with the optimal placement problem in manufacturing printing products. A special set of two-dimensional geometric objects bounded by circular arcs and line segments are introduced as mathematical m...

Download PDF file
  • EP ID EP580389
  • DOI 10.30837/1563-0064.1.2018.152796
  • Views 80
  • Downloads 0

How To Cite

Владимир Иванович Хаханов, С. В. Чумаченко, И. В. Емельянов, М. М. Любарский, Л. В. Ларченко, Е. И. Литвинова (2018). Дедуктивный анализ и диагностирование логических X-функций. Радиоэлектроника и информатика, 1(1), 55-64. https://europub.co.uk./articles/-A-580389