ESTIMATION OF CORRELATION OF FILM THICKNESS AND MAGNETIC DOMAIN STRUCTURES OF NIFE THIN FILMS

Abstract

NiFe alloy thin films are commonly used in the area of memory devices for computers, magnetic recording media, sensor industry and microelectromechanical systems. In particular, Permalloy (Ni83Fe17) is well known group of thin films, because of its high magnetic saturation, low coercivity and low magnetization. One of the methods of providing high quality soft magnetic thin films is magnetron sputtering. Physical and electrical properties of thin films strongly depend on many parameters such as crystallographic structure, orientation, composition or the type of substrate. In addition, in the case of magnetic layers, their magnetic properties are determined by obtaining domain structure. In the article we’ve described results of the research aimed on recognition of correlation of film thickness and magnetic domain structures. In order to obtain quantitative description of obtained results, we’ve successfully applied algorithms designed for topography parameters determination.

Authors and Affiliations

Mariusz OZIMEK, Andrzej SIKORA, Wiesław WILCZYŃSKI

Keywords

Related Articles

PROCEDURY ANALIZY HARMONICZNYCH DLA PROCESORÓW ARM

W artykule przedstawiono opis procedur Szybkiej Dyskretnej Transformacji Fouriera FFT, przygotowanych na procesory z rdzeniem ARM-9. Procedury te, używające arytmetyki stałoprzecinkowej, zostały napisane w asemblerze w s...

OPERATION OF A MUNICIPAL COMBINED HEAT AND POWER (CHP) IN THE BLACKOUT CONDITIONS EXEMPLIFIED BY A SELECTED HIGH-POWER OBJECT

The hazard of blackout occurrence in the Polish national power system keeps growing. In the blackout conditions one of the protection methods is to separate a balanced load island as a power source for a municipal CHP. T...

ZASTOSOWANIE NARZĘDZI INFORMATYCZNYCH STOSOWANYCH W TWORZENIU STRON INTERNETOWYCH DO OBLICZEŃ SYMULACYJNYCH

Celem artykułu jest wskazanie możliwości zastosowania intensywnie ostatnio rozwijanych narzędzi informatycznych, zasadniczo przeznaczonych do tworzenia stron internetowych, do obliczeń numerycznych. Głównym obiektem zain...

ZMIERZCHOWA CZUŁOŚĆ KONTRASTOWA JAKO DODATKOWY PARAMETR OCENY ZMĘCZENIA WZROKU SPOWODOWANEGO EKSPOZYCJĄ NA OLŚNIENIE PRZYKRE

W artykule przedstawiono metodę oraz wyniki badań zmian zmierzchowej czułości kontrastowej po ekspozycji na olśnienie przykre osób w różnym wieku. Zmierzchowa czułość kontrastowa bez olśnienia i z olśnieniem są standardo...

STRUKTURY FOTOWOLTAICZNE OPARTE O HETEROZŁĄCZE ZnO/Si

Warstwy tlenku cynku otrzymane metodą osadzania warstw atomowych ALD zostały użyte jako n-typu partner dla p-typu krzemu. Jako przezroczystą górną elektrodę wybrano warstwę tlenku cyku domieszkowaną glinem (tak zwana war...

Download PDF file
  • EP ID EP187679
  • DOI -
  • Views 65
  • Downloads 0

How To Cite

Mariusz OZIMEK, Andrzej SIKORA, Wiesław WILCZYŃSKI (2012). ESTIMATION OF CORRELATION OF FILM THICKNESS AND MAGNETIC DOMAIN STRUCTURES OF NIFE THIN FILMS. Proceedings of Electrotechnical Institute Prace Instytutu Elektrotechniki, 59(259), 83-84. https://europub.co.uk./articles/-A-187679