USING NEURAL NETWORKS PROGRAMMING ON JAVA FOR SOLVING THE PROBLEM OF SIGNAL RECOGNITION
Journal Title: Системні технології - Year 2019, Vol 1, Issue 1
Abstract
The results of the study of signal recognition using neural networks are presented. Scanning of composite materials is performed in the presence of additive noise. A multilayer perceptron with back-propagation error is implemented on Java in the environment NetBeans. Experiments were performed to analyze MSE values and accuracy. The confusion matrix, sensitivity and specificity were obtained and analyzed.
Authors and Affiliations
Наталія Матвеєва
Keywords
Related Articles
- EP ID EP531793
- DOI -
- Views 87
- Downloads 0
ПРИКЛАД ВИКОРИСТАННЯ ЕКСПЕРТНИХ МЕТОДІВ ДЛЯ ОЦІНКИ МАРШРУТІВ ВИРОБНИЦТВА ХОЛОДНОДЕФОРМОВАНИХ ТРУБ
Розроблена експертна система оцінки та вибору оптимального маршруту виробництва холоднодеформованих труб. Вона враховує декілька критеріїв та містить програмне забезпечення для частних критеріїв розрахунку, для статистич...
Criteria and techniques for processing noisy data with anomalous values
An approach to solve the problem of processing noisy data with anomalous values when the statistics of noise and anomalies are unknown is proposed. This approach is based on a method of generalized maximum likelihood and...
ВИЗУАЛЬНО-АНАЛИТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ КОРРЕЛИРОВАННОСТИ ЦИФРОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ ТЕХНИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ В ЗАДАЧАХ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
Проведен визуально-аналитический анализ измерений яркости с различными параметрами коррелированности и оценены воз-можности обнаружения изменений коррелированности на различных цифровых изображениях в терминах нечеткой л...
Assessment of distributed delay time of input signal by stationary objects
The article proposes a new method for estimating the distributed delay time of a signal by a stationary linear object whose transfer function is normalized and does not contain zeros. It is shown that the required time i...
Phase transformations in semiconductor silicon by the influence of magnetic field
The magnetic processing influence on the semiconductor silicon phase composition grown by the Czochralski method was investigated at present work. The processing has registered splitting of diffraction lines, as well as...