Analysis of Logistics Costs of the Ukrainian Semiconductor Industry Journal title: Бізнес Інформ Authors: Viktoriya Popova Subject(s):
AN AUTOMATIC SYSTEM FOR IDENTIFICATION OF RANDOM TELEGRAPH SIGNAL (RTS) NOISE IN NOISE SIGNALS Journal title: Metrology and Measurement Systems Authors: BARBARA STAWARZ-GRACZYK, DARIUSZ, ZAŁĘSKI, ALICJA KONCZAKOWSKA Subject(s):
Stability Analysis of Metal Oxide Gas Sensors Using System Identification Journal title: International Journal of Engineering Sciences & Research Technology Authors: Nimisha Dutta Subject(s):
Preparation methods for nano-sized structures using films of chalcogenide glassy semiconductors Journal title: Реєстрація, зберігання і обробка даних Authors: V. Petrov, P. Lytvyn, M. Trunov, A. Kryuchyn, E. Belyak, S. Kostyukevych Subject(s):
Review Paper on Smart Sensor Network for Air Quality Monitoring Journal title: International Journal of Innovative Research in Advanced Engineering Authors: Dhanashri Ajay konnur, Ragha L K Subject(s): Computer and Information Science, Electrical and Electronic Engineering, Engineering, Geophysics, Aerospace Engineering, Environmental Engineering, Innovation, Information Technology
Автоматизована система вимірювання при дослідженні електрофізичних властивостей напівпровідників у умовах сильних деформаційних та температурних полів Journal title: Технічні вісті Authors: Леонід Панасюк, Дмитро Захарчук, Юрій Коваль Subject(s):
ВДОСКОНАЛЕННЯ ЦИФРОВИХ ТЕРМОМЕТРИЧНИХ ЗАСОБІВ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕНЬ СОНЯЧНИХ КОЛЕКТОРІВ Journal title: Вимірювальна техніка та метрологія Authors: Христина Василиха, Василь Яцук, Юрій Яцук Subject(s):
Study of Semiconductor Photocatalysed Oxidation of Malic Acid Used in Cosmetic and Food Industries Journal title: Journal of Pharmaceutical and Biomedical Sciences Authors: Pushkar Raj Meena Subject(s):
THERMODYNAMIC PARAMETERS OF LEAD SULFIDE CRYSTALS IN THE CUBIC PHASE Journal title: Journal of Vasyl Stefanyk Precarpathian National University Authors: T.О. Parashchuk, A.V. Zagorodnyuk, L.І. Nykyruy, B.P. Volochanska, Т.М. Mazur Subject(s):
Electric Noise and Semiconductor Reliability Journal title: Asigurarea Calităţii – Quality Assurance Authors: Titu-Marius I. BĂJENESCU Subject(s):
Дослідження термометричного матеріалу HfNi1-xCoxSn Journal title: Вимірювальна техніка та метрологія Authors: Володимир Крайовський, Юрій Стадник, Любов Ромака Subject(s):
Intra-maxillary Molecular Releasing and its Application in the Assistance of Neurodegenerative Disease Therapeutics Journal title: International Journal of Clinical Therapeutics and Diagnosis (IJCTD) Authors: Yu-Jung Li Subject(s):
IONOSPHERİC TOTAL ELECTRON CONTENT (TEC) ANOMALİES RELATED TO THE (MW=7.8), 25 APRİL 2015 NEPAL EARTHQUAKE Journal title: ASIAN JOURNAL OF NATURAL & APPLIED SCIENCES Authors: Lin Jyh-Woei Subject(s):
STUDY OF SOLID STATE PHYSICS AND FABRICATION OF NANOSTRUCTURES Journal title: International journal of research -GRANTHAALAYAH Authors: Subject(s):
Impact of traps on current-voltage characteristic of n+-n-n+ diode Journal title: Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics Authors: P. M. Kruglenko Subject(s):
